Offre n°4486
The semiconductor industry requires precise characterization of microdefects to ensure quality and reliability of their products.
Strain defects in particular require monitoring, but very small ones are a challenge and the direction of distortion may be complex to map with current techniques.
POLARLUM technology is a patented photonic method enabling mapping of the smallest defects and their direction. It relies on naturally-polarized photoluminescent properties of semiconductors, and an innovative optical system.
Institut de physique de Rennes
UMR 6251 - IPR
FR : FR2110330 - filed on the 09-30-2021
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